| able Lokalizator uszkodzeńor XHGG502AMetoda lokalizacji |
LV TDR ( | metoda impulsów niskiego napięcia / metoda odbicia impulsów)HV TDR (metoda przeskoku wysokiego napięcia /pojedynczy impuls |
| metoda )ARC (metoda odbicia łuku wielokrotnego impulsu)ICE (metoda prądu impulsowego) | ||
| DECAY (metoda zaniku napięcia) | ||
| Automatyczne testowanie prędkości |
||
| prędkościWyświetlacz1 | ||
| 0 | .1 calowy przemysłowy sterownik komputerowy, tryb obsługi dotykowejSystemSystem Windows, automatyczne generowanie raportów z testów. | |
| Funkcja | Pomiar prędkości, rezystancji, odległości | |
| Częstotliwość próbkowania | 1MHz~400MHz | |
| Amplituda impulsu niskiego napięcia | 300V±15% | |
| Szerokość impulsu | 0.15uS/0.30uS/0.60uS/1.20uS/2.4uS/5.0uS/7.5uS/10uS; | |
| Odległość pomiarowa | 100m/300m/500m/1km/3km/5km/10km/25km/50km/100km/120km; | |
| Rozdzielczość odczytu | 0.07m; | |
| Dokładność testu | ≤±(0.5%×L+1m), L to długość kabla; | |
| Wybór długości kabla | 100m/300m/500m/1km/3km/5km/10km/25km/50km/100km | |
| Napięcie przebicia sprzęgacza impulsowego 35kV DC | Strefa martwa testu | |
| ≤ | 10m | |
| Przechowywanie danych | Przechowuje ponad 8000 rekordów przebiegów impulsów niskiego napięcia i przeskoku wysokiego napięcia oraz ponad 250 rekordów przebiegów wielokrotnych impulsów.Zasilanie | |
| ładowanie AC110V~240V, 50Hz/60Hz; | Wbudowany akumulator litowy 5200mAH; czas ładowania około 2 godzin, czas pracy ponad 5 godzin; | |
| Komunikacja | Ze standardowym interfejsem USB Warunki pracy |
|
| Temperatura -25ºC~+65ºC, wilgotność względna 85%, ciśnienie atmosferyczne 750±30mmHg; | Objętość i waga | |
| Tester uszkodzeń kabli L358mm×W284mm×H168mm-4.7kg; | Sprzęgacz impulsowy L430mm×W380mm×H220mm-10kg. | |
| Główne cechy | 1.10.1-calowy kolorowy wyświetlacz dotykowy TFT; 2. System wbudowany, bezpieczny, stabilny i prosty tryb wyświetlania i obsługi; |
Ogólna ocena
Przegląd ocen
Poniżej znajduje się rozkład wszystkich ocenWszystkie recenzje