XHGG502
Wyświetlacz
|
12-calowa kontrola komputera klasy przemysłowej, tryb obsługi dotykowej; |
System | System operacyjny XP, super system zarządzania kablami, automatycznie generuje raport z testu; |
Funkcje | pomiar odległości i pomiar prędkości; |
Częstotliwość próbkowania danych | 60 MHz, 120 MHz, 240 MHz, 400 MHz; |
Automatyczny | W pełni automatyczne ciągłe próbkowanie, nigdy nie przegap żadnego przebiegu wyładowania; |
Metoda testowania | metoda impulsów niskiego napięcia, metoda wyładowań wysokiego napięcia, metoda wielu impulsów |
Szerokość impulsu | 0,1 uS i 2 uS |
Amplituda impulsu | 400Vpp |
Odległość pomiaru | >60 km |
Rozdzielczość odczytu | 0,1 m |
Dokładność testu | mniej niż 0,5 m |
Napięcie wytrzymywane przez sprzęgło impulsowe | 38kVDC |
Dokładnie i szybko wykrywa główne uszkodzenia izolacji kabli zasilających o napięciu 35 kV i niższym; kalibruje długość kabla; w przybliżeniu testuje odległość do uszkodzenia kabla
Wstępne lokalizowanie uszkodzeń kabli: za pomocą reflektometru XHGG502 w oparciu o metodę odbicia impulsu niskiego napięcia (TDR) i metodę zaniku wysokiego napięcia (wyładowania) (DECAY), metoda odbicia łukowego (pojedynczy strzał/ multi-shot).
Istnieją trzy tryby testowe XHGG502, impuls niskiego napięcia, wyładowanie wysokiego napięcia, ARC multi-shot
Poniższy obrazek przedstawia odległość do uszkodzenia kabla zmierzoną za pomocą trybu testowego ARC multi-shot XHGG502.
Poniższy obrazek przedstawia odległość do uszkodzenia kabla zmierzoną za pomocą trybu testowego wyładowań wysokiego napięcia XHGG502
Poniższy obrazek przedstawia długość kabla lub odległość do uszkodzenia obwodu otwartego kabla zmierzoną za pomocą trybu testowego impulsu niskiego napięcia XHGG502. Podczas korzystania z metody impulsu niskiego napięcia nie ma potrzeby podłączania generatora impulsów wysokiego napięcia. Inne metody testowania muszą być używane w połączeniu z generatorem impulsów wysokiego napięcia.